fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf

Site Breadcrumb

Verkauf durch Sack Fachmedien

Behrisch / Eckstein

Sputtering by Particle Bombardment

Experiments and Computer Calculations from Threshold to MeV Energies

Medium: Buch
ISBN: 978-3-642-07944-3
Verlag: Springer
Erscheinungstermin: 23.11.2010
In den Warenkorb
Lieferfrist: bis zu 10 Tage
Auf die Merkliste Drucken

Leseprobe
Überschrift

Beschreibung

Kostenloser Versand

nach Deutschland, Österreich und in die Schweiz

Bequem zahlen

Rechnung, Kreditkarte, PayPal oder Bankeinzug

Wir sind gerne für Sie da

0800 000-1378 (Inland)
service@fachmedien.de
<<Kontaktformular>>

Fragen

Fragen Lorem ipsum dolor sit amet, consetetur sadipscing elitr, sed diam nonumy eirmod tempor invidunt ut labore et dolore magna aliquyam erat, sed diam voluptua
Anwtorten

Anwtorten At vero eos et accusam et justo duo dolores et ea rebum. Stet clita kasd gubergren, no sea takimata sanctus est Lorem ipsum dolor sit amet. Lorem ipsum dolor sit amet

Earlier books on this subject, i.e. "Sputtering by Particle Bombardment I - III" are nearly 20 years old, but since then a lot of new and important work has been performed and published in international journals. The planned book brings an overview about all the new results. This concerns especially a new summary of the measured and calculated sputtering yields with an algebraic approximation formula for the energy and angular dependence of the yields. This is especially useful for all colleagues, who need sputtering yields for physics and/or applied problems. The computational methods for calculating sputtering yields are critically reviewed, Molecular dynamics calculations have not been covered in the previous books on sputtering. The influence of chemical effects on sputtering and the new models developed in the last years for understanding these effects, such as for hydrogen ion bombardment of carbon, are outlined. New developments, such as sputtering by MeV Ions and the mechanisms for understanding the effects are presented. The new results about the angular and energy distributions of sputtered atoms are presented in an extra chapter.

Produkteigenschaften

  • Artikelnummer: 9783642079443
  • Medium: Buch
  • ISBN: 978-3-642-07944-3
  • Verlag: Springer
  • Erscheinungstermin: 23.11.2010
  • Sprache(n): Englisch
  • Auflage: 1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
  • Serie: Topics in Applied Physics
  • Produktform: Kartoniert, Paperback
  • Gewicht: 791 g
  • Seiten: 509
  • Format (B x H x T): 155 x 235 x 29 mm
  • Ausgabetyp: Kein, Unbekannt

Themen

Autoren/Hrsg.

Herausgeber

Introduction and Overview (R. Behrisch, W. Eckstein).- Computer Simulation of the Sputtering Process (W. Eckstein, H.M. Urbassek).- Sputtering Yields (W. Eckstein).- Results of Molecular Dynamics Calculations (H.M. Urbassek).- Energy and Angular Distributions of Sputtered Species (H. Gnaser).- Chemical Sputtering (W. Jacob, J. Roth).- Electronic Sputtering with Swift Heavy Ions (W. Assmann, M. Toulemonde, C. Trautmann) Subject Index