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Verkauf durch Sack Fachmedien

Hong / Cheng

Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links

Medium: Buch
ISBN: 978-94-007-3094-6
Verlag: Springer Netherlands
Erscheinungstermin: 01.03.2012
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Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links describes in detail several new and promising techniques for cost-effectively testing high-speed interfaces with a high test coverage. One primary focus of Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links is on efficient testing methods for jitter and bit-error-rate (BER), which are widely used for quantifying the quality of a communication system. Various analysis as well as experimental results are presented to demonstrate the validity of the presented techniques.

Produkteigenschaften

  • Artikelnummer: 9789400730946
  • Medium: Buch
  • ISBN: 978-94-007-3094-6
  • Verlag: Springer Netherlands
  • Erscheinungstermin: 01.03.2012
  • Sprache(n): Englisch
  • Auflage: 2010
  • Serie: Lecture Notes in Electrical Engineering
  • Produktform: Kartoniert, Previously published in hardcover
  • Gewicht: 184 g
  • Seiten: 98
  • Format (B x H x T): 155 x 235 x 7 mm
  • Ausgabetyp: Kein, Unbekannt

Themen

Autoren/Hrsg.

Autoren

An Efficient Jitter Measurement Technique.- BER Estimation for Linear Clock and Data Recovery Circuit.- BER Estimation for Non-linear Clock and Data Recovery Circuit.- Gaps in Timing Margining Test.- An Accurate Jitter Estimation Technique.- A Two-Tone Test Method for Continuous-Time Adaptive Equalizers.- Conclusions.