fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf
fachmedien.de - spezialisierte Fachinformationen für Studium und Beruf

Site Breadcrumb

Verkauf durch Sack Fachmedien

Giannuzzi / North Carolina State University Center for the Biology of

Introduction to Focused Ion Beams

Instrumentation, Theory, Techniques and Practice

Medium: Buch
ISBN: 978-1-4419-3574-8
Verlag: Springer Us
Erscheinungstermin: 29.10.2010
In den Warenkorb
sofort versandfertig, Lieferfrist: 1-3 Werktage
Auf die Merkliste Drucken

Leseprobe
Überschrift

Beschreibung

Kostenloser Versand

nach Deutschland, Österreich und in die Schweiz

Bequem zahlen

Rechnung, Kreditkarte, PayPal oder Bankeinzug

Wir sind gerne für Sie da

0800 000-1378 (Inland)
service@fachmedien.de
<<Kontaktformular>>

Fragen

Fragen Lorem ipsum dolor sit amet, consetetur sadipscing elitr, sed diam nonumy eirmod tempor invidunt ut labore et dolore magna aliquyam erat, sed diam voluptua
Anwtorten

Anwtorten At vero eos et accusam et justo duo dolores et ea rebum. Stet clita kasd gubergren, no sea takimata sanctus est Lorem ipsum dolor sit amet. Lorem ipsum dolor sit amet

Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.

Produkteigenschaften

  • Artikelnummer: 9781441935748
  • Medium: Buch
  • ISBN: 978-1-4419-3574-8
  • Verlag: Springer Us
  • Erscheinungstermin: 29.10.2010
  • Sprache(n): Englisch
  • Auflage: 1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
  • Produktform: Kartoniert, Previously published in hardcover
  • Gewicht: 1170 g
  • Seiten: 357
  • Format (B x H x T): 154 x 229 x 23 mm
  • Ausgabetyp: Kein, Unbekannt

Themen

Autoren/Hrsg.

Herausgeber

The Focused Ion Beam Instrument.- Ion - Solid Interactions.- Focused Ion Beam Gases for Deposition and Enhanced Etch.- Three-Dimensional Nanofabrication Using Focused Ion Beams.- Device Edits and Modifications.- The Uses of Dual Beam FIB in Microelectronic Failure Analysis.- High Resolution Live Imaging of FIB Milling Processes for Optimum Accuracy.- FIB for Materials Science Applications - a Review.- Practical Aspects of FIB Tem Specimen Preparation.- FIB Lift-Out Specimen Preparation Techniques.- A FIB Micro-Sampling Technique and a Site Specific TEM Specimen Preparation Method.- Dual-Beam (FIB-SEM) Systems.- Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB-SIMS).- Quantitative Three-Dimensional Analysis Using Focused Ion Beam Microscopy.- Application of FIB in Combination with Auger Electron Spectroscopy.