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Murr

Electron and Ion Microscopy and Microanalysis

Principles and Applications, Second Edition,

Medium: Buch
ISBN: 978-0-367-40294-5
Verlag: CRC Press
Erscheinungstermin: 29.10.2019
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The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

Produkteigenschaften

  • Artikelnummer: 9780367402945
  • Medium: Buch
  • ISBN: 978-0-367-40294-5
  • Verlag: CRC Press
  • Erscheinungstermin: 29.10.2019
  • Sprache(n): Englisch
  • Auflage: 2. Auflage 2019
  • Produktform: Kartoniert, Paperback
  • Gewicht: 1576 g
  • Seiten: 856
  • Format (B x H x T): 178 x 254 x 45 mm
  • Ausgabetyp: Kein, Unbekannt

Themen

Autoren/Hrsg.

Herausgeber

CHAPTER 1: FUNDAMENTAL PROPERTIES OF ELECTRONS AND IONS. CHAPTER 2: ELECTRON EMISSION AND EMISSION AND IONIZATION MICROSCOPY. CHAPTER. 3: ELECTRON AND ION OPTICS AND OPTICAL SYSTEMS. CHAPTER 4: ELECTRON AND ION PROBE MICROANALYSIS. CHAPTER 5: ELECTRON AND ION MICROSCOPY OF SURFACES. CHAPTER 6: ELECTRON DIFFRACTION. CHAPTER 7: TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY. CHAPTER 8: HIGH-VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY.