Seite 1 von 6
Anzahl pro Seite
Sortiert nach
Produkte: 63 Seite 1 von 6 Filter
Wunderlich

Models in Hardware Testing  

Models in Hardware Testing
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-94-007-3093-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 01.03.2012
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Sheppard / Simpson

Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis  

Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Humana
  • ISBN: 978-0-7923-8263-8 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.09.1998
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Sousa / Cheung

Boundary-Scan Interconnect Diagnosis  

Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer US
  • ISBN: 978-1-4419-4887-8 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 07.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Stroud

A Designer's Guide to Built-In Self-Test  

A Designer's Guide to Built-In Self-Test
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Humana
  • ISBN: 978-1-4020-7050-1 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 31.05.2002
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
Iyengar / Chandra

Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip  

Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-1-4613-5400-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 07.11.2012
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Kastensmidt / Reis

Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs  

Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Humana
  • ISBN: 978-1-4419-4052-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 29.11.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nadeau-Dostie

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement  

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Humana
  • ISBN: 978-1-4757-8291-2 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 26.04.2013
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Larsson

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization  

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-1-4020-3207-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 07.11.2005
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Radecka / Zilic

Verification by Error Modeling  

Verification by Error Modeling
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-1-4020-7652-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.11.2003
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Filter
Anzahl pro Seite
Sortiert nach