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Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Huang / Wang / Li
Electromagnetic Ultrasonic Guided Waves
160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huang / Wang / Li
Electromagnetic Ultrasonic Guided Waves
Verlag:
Springer
ISBN:
978-981-10-0562-6 (Buch)
Erscheinungstermin:
30.03.2016
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Yan / Chen / Mukhopadhyay
Structural Health Monitoring
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
Yan / Chen / Mukhopadhyay
Structural Health Monitoring
Verlag:
Springer
ISBN:
978-3-319-56125-7 (Buch)
Erscheinungstermin:
05.05.2017
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Wittke
Charakterisierung spanlos gefertigter Innengewinde in Aluminium- und Magnesium-Leichtbauwerkstoffen
64,99 € (inkl. MwSt.)
60,74 € (zzgl. MwSt.)
Wittke
Charakterisierung spanlos gefertigter Innengewinde in Aluminium- und Magnesium-Leichtbauwerkstoffen
Verlag:
Springer
ISBN:
978-3-658-27942-4 (Buch)
Erscheinungstermin:
16.10.2019
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Huang / Zhao
Magnetic Flux Leakage
149,95 € (inkl. MwSt.)
140,14 € (zzgl. MwSt.)
Huang / Zhao
Magnetic Flux Leakage
Verlag:
De Gruyter
ISBN:
978-3-11-047701-6 (Buch)
Erscheinungstermin:
07.11.2016
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Michael / Aderhold / Balles
Leitfaden zur industriellen Röntgentechnik
37,00 € (inkl. MwSt.)
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Michael / Aderhold / Balles
Leitfaden zur industriellen Röntgentechnik
Verlag:
Fraunhofer Verlag
ISBN:
978-3-8396-2044-1 (Buch)
Erscheinungstermin:
20.11.2024
Sofort verfügbar
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Chapuis / Sjerve
Sensors, Algorithms and Applications for Structural Health Monitoring
106,99 € (inkl. MwSt.)
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Chapuis / Sjerve
Sensors, Algorithms and Applications for Structural Health Monitoring
Verlag:
Springer
ISBN:
978-3-319-69232-6 (Buch)
Erscheinungstermin:
27.11.2017
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Kumar
Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
213,99 € (inkl. MwSt.)
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Kumar
Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
Verlag:
Springer
ISBN:
978-3-662-51997-4 (Buch)
Erscheinungstermin:
23.08.2016
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Schlipf / Michaelis / Fraunhofer IKTS, Dresden
Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels
55,00 € (inkl. MwSt.)
51,40 € (zzgl. MwSt.)
Schlipf / Michaelis / Fraunhofer IKTS, Dresden
Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels
Verlag:
Fraunhofer Verlag
ISBN:
978-3-8396-1797-7 (Buch)
Erscheinungstermin:
21.03.2022
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DIN-DVS-Normenportal Schweißen - Grundmodul + Modul zerstörungsfreie Prüfung
39,33 - 59,00 € (inkl. MwSt.)
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DIN Media
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Journal of Nondestructive Evaluation
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Journal of Nondestructive Evaluation
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01959298 (Zeitschrift)
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