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Huang / Wang / Li

Electromagnetic Ultrasonic Guided Waves  

Electromagnetic Ultrasonic Guided Waves
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-981-10-0562-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 30.03.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Yan / Chen / Mukhopadhyay

Structural Health Monitoring  

Structural Health Monitoring
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Yan / Chen / Mukhopadhyay

Structural Health Monitoring

  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-319-56125-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 05.05.2017
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Huang / Zhao

Magnetic Flux Leakage  

Magnetic Flux Leakage
149,95 € (inkl. MwSt.) 140,14 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: De Gruyter
  • ISBN: 978-3-11-047701-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 07.11.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
149,95 € (inkl. MwSt.) 140,14 € (zzgl. MwSt.)
Michael / Aderhold / Balles

Leitfaden zur industriellen Röntgentechnik  

Leitfaden zur industriellen Röntgentechnik
37,00 € (inkl. MwSt.) 34,58 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Fraunhofer Verlag
  • ISBN: 978-3-8396-2044-1 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 20.11.2024
  • Sofort verfügbar
37,00 € (inkl. MwSt.) 34,58 € (zzgl. MwSt.)
Chapuis / Sjerve

Sensors, Algorithms and Applications for Structural Health Monitoring  

Sensors, Algorithms and Applications for Structural Health Monitoring
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-319-69232-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 27.11.2017
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Kumar

Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization  

Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-662-51997-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 23.08.2016
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
Schlipf / Michaelis / Fraunhofer IKTS, Dresden

Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels  

Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels
55,00 € (inkl. MwSt.) 51,40 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Fraunhofer Verlag
  • ISBN: 978-3-8396-1797-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 21.03.2022
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
55,00 € (inkl. MwSt.) 51,40 € (zzgl. MwSt.)
 

Journal of Nondestructive Evaluation  

Journal of Nondestructive Evaluation
2646,11 € (inkl. MwSt.) 2473,00 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISSN: 01959298 (Zeitschrift)
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
2646,11 € (inkl. MwSt.) 2473,00 € (zzgl. MwSt.)
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