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Frontiers in Electronic Testing
Bushnell / Agrawal
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
139,09 € (inkl. MwSt.)
129,99 € (zzgl. MwSt.)
Bushnell / Agrawal
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Verlag:
Springer
ISBN:
978-0-7923-7991-1 (Buch)
Erscheinungstermin:
30.11.2000
Lieferzeit ca. 10 Werktage
139,09 € (inkl. MwSt.)
129,99 € (zzgl. MwSt.)
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Maichen
Digital Timing Measurements
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
Maichen
Digital Timing Measurements
Verlag:
Springer
ISBN:
978-1-4419-4066-7 (Buch)
Erscheinungstermin:
25.11.2010
Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
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Sachdev / Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
213,99 € (inkl. MwSt.)
199,99 € (zzgl. MwSt.)
Sachdev / Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Verlag:
Springer
ISBN:
978-1-4419-4285-2 (Buch)
Erscheinungstermin:
10.11.2010
Lieferzeit ca. 10 Werktage
213,99 € (inkl. MwSt.)
199,99 € (zzgl. MwSt.)
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Beenker / Bennetts / Thijssen
Testability Concepts for Digital ICs
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
Beenker / Bennetts / Thijssen
Testability Concepts for Digital ICs
Verlag:
Humana
ISBN:
978-1-4613-6004-9 (Buch)
Erscheinungstermin:
04.10.2012
Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
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Nicolici / Al-Hashimi
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.)
99,99 € (zzgl. MwSt.)
Nicolici / Al-Hashimi
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Verlag:
Humana
ISBN:
978-1-4020-7235-2 (Buch)
Erscheinungstermin:
28.02.2003
Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell
Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
106,99 € (inkl. MwSt.)
99,99 € (zzgl. MwSt.)
Bushnell
Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Verlag:
Humana
ISBN:
978-0-7923-9673-4 (Buch)
Erscheinungstermin:
31.12.1995
Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.)
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Sousa / Cheung
Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
Sousa / Cheung
Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
Verlag:
Springer US
ISBN:
978-0-7923-7314-8 (Buch)
Erscheinungstermin:
28.02.2001
Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.)
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Adams
High Performance Memory Testing
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
Adams
High Performance Memory Testing
Verlag:
Humana
ISBN:
978-1-4757-8474-9 (Buch)
Erscheinungstermin:
26.04.2013
Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
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Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails
106,99 € (inkl. MwSt.)
99,99 € (zzgl. MwSt.)
Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Verlag:
Springer
ISBN:
978-0-387-24993-3 (Buch)
Erscheinungstermin:
21.06.2005
Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies
160,49 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies
Verlag:
Humana
ISBN:
978-0-387-74746-0 (Buch)
Erscheinungstermin:
10.12.2007
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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