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Seiler / Diebold / McDonald

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011  

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011
171,15 € (inkl. MwSt.) 159,95 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: AIP Press
  • ISBN: 978-0-7354-0973-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 15.03.2013
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
171,15 € (inkl. MwSt.) 159,95 € (zzgl. MwSt.)
Bose / Tripathy

Functional Materials:  

Functional Materials:
160,45 € (inkl. MwSt.) 149,95 € (zzgl. MwSt.)
Bose / Tripathy

Functional Materials:

  • Verlag: AIP Press
  • ISBN: 978-0-7354-1065-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 20.12.2012
  • Nicht mehr lieferbar
160,45 € (inkl. MwSt.) 149,95 € (zzgl. MwSt.)
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