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Meyer / Hug / Bennewitz

Scanning Probe Microscopy  

Scanning Probe Microscopy
69,99 € (inkl. MwSt.) 65,41 € (zzgl. MwSt.)
Meyer / Hug / Bennewitz

Scanning Probe Microscopy

  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-642-07737-1 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 22.09.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
69,99 € (inkl. MwSt.) 65,41 € (zzgl. MwSt.)
Hüfner

Photoelectron Spectroscopy  

Photoelectron Spectroscopy
117,69 € (inkl. MwSt.) 109,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-642-07520-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 06.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
117,69 € (inkl. MwSt.) 109,99 € (zzgl. MwSt.)
Saldin / Schneidmiller / Yurkov

The Physics of Free Electron Lasers  

The Physics of Free Electron Lasers
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Saldin / Schneidmiller / Yurkov

The Physics of Free Electron Lasers

  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-642-08555-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.12.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Pietsch / Holy / Baumbach

High-Resolution X-Ray Scattering  

High-Resolution X-Ray Scattering
96,29 € (inkl. MwSt.) 89,99 € (zzgl. MwSt.)
Pietsch / Holy / Baumbach

High-Resolution X-Ray Scattering

  • Verlag: Humana
  • ISBN: 978-1-4419-2307-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.12.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
96,29 € (inkl. MwSt.) 89,99 € (zzgl. MwSt.)
Hüfner

Photoelectron Spectroscopy  

Photoelectron Spectroscopy
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-540-41802-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 08.04.2003
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Choyke / Matsunami / Pensl

Silicon Carbide  

Silicon Carbide
320,99 € (inkl. MwSt.) 299,99 € (zzgl. MwSt.)
Choyke / Matsunami / Pensl

Silicon Carbide

  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-540-40458-3 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 08.10.2003
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
320,99 € (inkl. MwSt.) 299,99 € (zzgl. MwSt.)
Pietsch / Holy / Baumbach

High-Resolution X-Ray Scattering  

High-Resolution X-Ray Scattering
139,09 € (inkl. MwSt.) 129,99 € (zzgl. MwSt.)
Pietsch / Holy / Baumbach

High-Resolution X-Ray Scattering

  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-0-387-40092-1 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 27.08.2004
  • Sofort verfügbar
139,09 € (inkl. MwSt.) 129,99 € (zzgl. MwSt.)
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