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Frontiers in Electronic Testing
Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
160,49 € (inkl. MwSt.)
149,99 € (zzgl. MwSt.)
- Verlag: Springer
- ISBN: 978-1-4613-7535-7 (Buch)
- Erscheinungstermin: 26.10.2012
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
160,49 € (inkl. MwSt.)
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-1-4419-5115-1 (Buch)
- Erscheinungstermin: 10.12.2010
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Embedded Processor-Based Self-Test
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- Verlag: Springer US
- ISBN: 978-1-4020-2785-7 (Buch)
- Erscheinungstermin: 20.12.2004
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Verification by Error Modeling
106,99 € (inkl. MwSt.)
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- Verlag: Humana
- ISBN: 978-1-4419-5402-2 (Buch)
- Erscheinungstermin: 07.12.2010
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Testability Concepts for Digital ICs
160,49 € (inkl. MwSt.)
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- Verlag: Humana
- ISBN: 978-0-7923-9658-1 (Buch)
- Erscheinungstermin: 30.11.1995
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
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- Verlag: Humana
- ISBN: 978-0-7923-8295-9 (Buch)
- Erscheinungstermin: 31.10.1998
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High Performance Memory Testing
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- Verlag: Humana
- ISBN: 978-1-4020-7255-0 (Buch)
- Erscheinungstermin: 30.09.2002
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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
106,99 € (inkl. MwSt.)
99,99 € (zzgl. MwSt.)
- Verlag: Humana
- ISBN: 978-1-4419-3828-2 (Buch)
- Erscheinungstermin: 05.01.2011
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-1-4757-8142-7 (Buch)
- Erscheinungstermin: 07.04.2013
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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
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- Verlag: Springer
- ISBN: 978-1-4419-5269-1 (Buch)
- Erscheinungstermin: 02.02.2011
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