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Drabold / Estreicher

Theory of Defects in Semiconductors

Theory of Defects in Semiconductors

213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)

Drabold / Estreicher

Theory of Defects in Semiconductors

Verlag: Springer
ISBN: 978-3-642-07003-7 (Buch)
Erscheinungstermin: 22.11.2010

Lieferzeit ca. 10 Werktage

213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)

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Drabold / Estreicher

Theory of Defects in Semiconductors

Theory of Defects in Semiconductors

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Drabold / Estreicher

Theory of Defects in Semiconductors

Verlag: Springer
ISBN: 978-3-540-33400-2 (Buch)
Erscheinungstermin: 18.10.2006

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Fanciulli / Scarel

Rare Earth Oxide Thin Films

Rare Earth Oxide Thin Films

160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)

Fanciulli / Scarel

Rare Earth Oxide Thin Films

Verlag: Springer
ISBN: 978-3-540-35796-4 (Buch)
Erscheinungstermin: 30.10.2006

Lieferzeit ca. 10 Werktage

160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)

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Fanciulli / Scarel

Rare Earth Oxide Thin Films

Rare Earth Oxide Thin Films

160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)

Fanciulli / Scarel

Rare Earth Oxide Thin Films

Verlag: Springer
ISBN: 978-3-642-07146-1 (Buch)
Erscheinungstermin: 18.11.2010

Lieferzeit ca. 10 Werktage

160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)

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Frequency Measurement and Control

Frequency Measurement and Control

213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)

Luiten

Frequency Measurement and Control

Verlag: Springer
ISBN: 978-3-540-67694-2 (Buch)
Erscheinungstermin: 12.12.2000

Lieferzeit ca. 10 Werktage

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