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Lenz / Schmid / Wilrich

Frontiers in Statistical Quality Control 10  

Frontiers in Statistical Quality Control 10
53,49 € (inkl. MwSt.) 49,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Physica
  • ISBN: 978-3-7908-2845-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 04.08.2012
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
53,49 € (inkl. MwSt.) 49,99 € (zzgl. MwSt.)
Choi / Grandhi / Canfield

Reliability-based Structural Design  

Reliability-based Structural Design
159,99 € (inkl. MwSt.) 149,52 € (zzgl. MwSt.)
Choi / Grandhi / Canfield

Reliability-based Structural Design

  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-1-84996-603-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 13.10.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
159,99 € (inkl. MwSt.) 149,52 € (zzgl. MwSt.)
Sackewitz / Fraunhofer-Allianz Vision, Fürth

Leitfaden zur hyperspektralen Bildverarbeitung.  

Leitfaden zur hyperspektralen Bildverarbeitung.
35,00 € (inkl. MwSt.) 32,71 € (zzgl. MwSt.)
Sackewitz / Fraunhofer-Allianz Vision, Fürth

Leitfaden zur hyperspektralen Bildverarbeitung.

  • Verlag: Fraunhofer Verlag
  • ISBN: 978-3-8396-1502-7 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 14.10.2019
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
35,00 € (inkl. MwSt.) 32,71 € (zzgl. MwSt.)
Morassi / Vestroni

Dynamic Methods for Damage Detection in Structures  

Dynamic Methods for Damage Detection in Structures
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-211-99931-8 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 19.10.2010
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Gonschorek / Vick

Electromagnetic Compatibility for Device Design and System Integration  

Electromagnetic Compatibility for Device Design and System Integration
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-3-642-03289-9 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 01.10.2009
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
160,49 € (inkl. MwSt.) 149,99 € (zzgl. MwSt.)
Doganaksoy / Meeker / Hahn

Achieving Product Reliability  

Achieving Product Reliability
50,70 € (inkl. MwSt.) 50,70 € (zzgl. MwSt.)
Doganaksoy / Meeker / Hahn

Achieving Product Reliability

  • Verlag: Chapman and Hall/CRC
  • ISBN: 978-1-138-05400-4 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 22.06.2021
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
50,70 € (inkl. MwSt.) 50,70 € (zzgl. MwSt.)
Boyd

Life-Cycle Assessment of Semiconductors  

Life-Cycle Assessment of Semiconductors
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Humana
  • ISBN: 978-1-4419-9987-0 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 12.10.2011
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
Mróz / Weichert / Dorosz

Inelastic Behaviour of Structures under Variable Loads  

Inelastic Behaviour of Structures under Variable Loads
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-0-7923-3397-5 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 28.02.1995
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
213,99 € (inkl. MwSt.) 199,99 € (zzgl. MwSt.)
Pook

Metal Fatigue  

Metal Fatigue
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
  • Verlag: Springer
  • ISBN: 978-1-4020-5596-6 (Buch)
  • Erscheinungstermin: 09.03.2007
  • Lieferzeit ca. 10 Werktage
106,99 € (inkl. MwSt.) 99,99 € (zzgl. MwSt.)
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