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Shudo / Katayama / Ohno

Frontiers in Optical Methods

Nano-Characterization and Coherent Control

Medium: Buch
ISBN: 978-3-662-50731-5
Verlag: Springer
Erscheinungstermin: 23.08.2016
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This collection of reviews by leading Japanese researchers covers topics like ultrafast optical responses, terahertz and phonon studies, super-sensitive surface and high-pressure spectroscopy, combination of visible and x-ray photonics. Several related areas at the cutting edge of measurement technology and materials science are included. This book is partly based on well-cited review articles in the Japanese language in special volumes of the Journal of the Vacuum Society of Japan.

Produkteigenschaften

  • Artikelnummer: 9783662507315
  • Medium: Buch
  • ISBN: 978-3-662-50731-5
  • Verlag: Springer
  • Erscheinungstermin: 23.08.2016
  • Sprache(n): Englisch
  • Auflage: Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
  • Serie: Springer Series in Optical Sciences
  • Produktform: Kartoniert, Paperback
  • Gewicht: 3693 g
  • Seiten: 228
  • Format (B x H x T): 155 x 235 x 14 mm
  • Ausgabetyp: Kein, Unbekannt

Themen

Autoren/Hrsg.

Herausgeber

State-of-Art of Terahertz Science and Technology.- Broadband Terahertz Spectroscopy and its Application to the Characterization of Thin Films.- Single Photon Counting and Passive Microscopy of Terahertz Radiation.- Coherent Phonons in Carbon Nanotubes.- Time-resolved X-ray Diffraction Studies of Coherent Lattice Dynamics Using Synchrotron Radiation.- Imaging GHz-THz Acoustic Wave Propagation in Thin Films and Microstructures.- Material Evaluation with Various Optical Measurement Systems: Focusing on Terahertz Spectroscopy.- Ultrafast Excitation and Dynamics Measurements with Intense Ultrashort Laser Pulses: High-Order Harmonic Generation from Aligning Molecules and Surface Nanostructuring.- Real Space Mapping of Exciton Interaction Strength in GaN Films by using Four-Wave-Mixing Technique.- Terahertz Light Source Based on Synchrotron Radiation.- Terahertz Synchrotron Radiation; Optics and Application.- Far-infrared Spectroscopy on Solids under Ultra High Pressures.- Real-time Analysis of Initial Oxidation Process on Si(001) by Means of Surface Differential Reflectance Spectroscopy and Reflectance Difference Spectroscopy.