Pattern recognition presents one of the most significant challenges for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. The aim of this book is to provide a self-contained account of probabilistic analysis of these approaches. The book includes a discussion of distance measures, nonparametric methods based on kernels or nearest neighbors, Vapnik-Chervonenkis theory, epsilon entropy, parametric classification, error estimation, free classifiers, and neural networks. Wherever possible, distribution-free properties and inequalities are derived. A substantial portion of the results or the analysis is new. Over 430 problems and exercises complement the material.
Produkteigenschaften
- Artikelnummer: 9780387946184
- Medium: Buch
- ISBN: 978-0-387-94618-4
- Verlag: Springer
- Erscheinungstermin: 04.04.1996
- Sprache(n): Englisch
- Auflage: 1996
- Serie: Stochastic Modelling and Applied Probability
- Produktform: Gebunden
- Gewicht: 1144 g
- Seiten: 638
- Format (B x H x T): 160 x 241 x 40 mm
- Ausgabetyp: Kein, Unbekannt
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