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Vickerman

Surface Analysis

The Principal Techniques

Medium: Buch
ISBN: 978-0-471-97292-1
Verlag: Wiley
Erscheinungstermin: 25.07.1997
Nicht mehr lieferbar

Surface analysis deals with the characterisation and understanding of the outer layers of substrates. How they react, look and function are all of interest to the surface scientists. From the basic principles of surface analysis this book considers the various techniques used to analyse surfaces and the theory required to understand the results. The book begins with a general introduction to the sometimes complex area of surface analysis, and continues with chapters by leading experts on the many different techniques currently used, including, for example, SIMS, ESCA, Auger and vibrational spectroscopy. Anyone with a basic understanding of the subject will discover, in one single volume, the rudiments of any particular technique and the answers to commonly asked questions.

Für alle Studierenden der Oberflächentechnik wird das Buch eine unschätzbare Hilfe bei ihrem Studium sein. Ausgehend von den Grundprinzipien der Oberflächenanalyse berücksichtigt es die verschiedenen Oberflächenanalysetechniken und die für das Verständnis der Ergebnisse erforderlichen Theorien.
Das Buch beginnt mit einer allgemeinen Einleitung zum manchmal komplexen Gebiet der Oberflächentechnik. Daran schließen sich Kapitel von führenden Experten über die verschiedenen gegenwärtig angewendeten Techniken an, einschließlich beispielsweise SIMS, ESCA, Auger- und Vibrationsspektroskopie. Für jeden, der über Grundkenntnisse zu diesem Thema verfügt, bietet das Werk in einem einzigen Band Grundlagen zu jeder speziellen Technik und Antworten auf häufig gestellte Fragen.
Trotz seiner Konzeption als Lehrbuch für das Grundstudium werden auch Forschungskräfte in den Bereichen Polymer- und Materialchemie, Beschichtung, Halbleiter, Keramik, Membranchemie, Elektronik und Nanotechnik das Buch als nützliches Nachschlagewerk und als wertvolle Bereicherung ihrer Bibliothek empfinden.


Produkteigenschaften


  • Artikelnummer: 9780471972921
  • Medium: Buch
  • ISBN: 978-0-471-97292-1
  • Verlag: Wiley
  • Erscheinungstermin: 25.07.1997
  • Sprache(n): Englisch
  • Auflage: 1. Auflage 1997
  • Produktform: Kartoniert
  • Gewicht: 680 g
  • Seiten: 458
  • Format (B x H x T): 155 x 229 x 26 mm
  • Ausgabetyp: Kein, Unbekannt
  • Nachauflage: 978-0-470-01764-7
Autoren/Hrsg.

Herausgeber

Aus dem Inhalt:
Introduction - J C Vickerman;(General Applications, Overview of major techniques) Vacuum Technology - Rod Wilson; (Explanation of principles and terminology, vacuum pumps, pressure measurement). Electron Spectroscopy for Chemical Analysis - Buddy Ratner and David Caster; (Overview of ESCA, x-ray interaction, binding energy and the chemical shift, IMFP and sampling depth, quantification, spectral features, instrumentation, spectral quality, depth profiling). Auger Electron Spectroscopy - H-J Mathieu;(Auger Process, sources of AES, chemical effects in AES, Scanning Auger Microscopy, Auger Depth Profiling, Instrumentation, Applications, Secondary Ion Mass Spectrometry - the Surface) Mass Spectrometry - J C Vickerman and A J Swift, Low Energy Ion Scattering and Rutherford Backscattering - E. Taglauer, Vibrational Spectroscopy - M Pemble;(Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS), Raman Scattering, IR Spectroscopy) Surface Structure Determination by Interference Techniques - Wendy Flavell, (electron diffraction techniques, low energy electron diffraction (LEED), Reflection High Energy Electron Diffraction (RHEED)Scanning Tunelling Microscopy and Atomic Force Microscopy - Graham Leggett.Vacuum Technology for Applied Surface Science (R. Wilson).

Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (B. Ratner & D. Castner).

Auger Electron Spectroscopy (H. Mathieu).

Secondary Ion Mass Spectroscopy-the Surface Mass Spectrometry (J. Vickerman & A. Swift).

Low-Energy Ion Scattering and Rutherford Backscattering (E. Taglauer).

Vibrational Spectroscopy from Surfaces (M. Pemble).

Surface Structure Determination by Interference Techniques (W. Flavell).

Scanning Tunnelling Microscopy and Atomic Force Microscopy (G. Leggett).

Index.